Étude de l’effet de l’épaisseur sur les propriétés structurales et optiques des couches minces de ZnO:Al

dc.contributor.authorHASBAIA, Mariem
dc.date.accessioned2019-02-20T12:21:21Z
dc.date.available2019-02-20T12:21:21Z
dc.date.issued2018-06-27
dc.description.abstractDans ce travail de mémoire, nous avons étudié l’effet de l’épaisseur sur les propriétés structurales et optiques des couches minces de ZnO dopé 2.5 % d’aluminium. Ces derniers ont été déposées par la technique de pulvérisation cathodique RF-magnétron sur les substrats de verre avec trois épaisseurs différentes de ZnO : Al (400, 750 et 950 nm). Les résultats obtenus de DRX ont montré que tous les films déposés ont une structure hexagonale de type wurtzite avec une orientation préférentielle selon l’axe c perpendiculaire à la surface de substrat. Les résultats de spectrophotométrie UV-Visible ont montré que tous les couches de ZnO:Al sont transparentes et ont une transmission moyenne supérieure à 85 % dans le domaine de visible. L’augmentation de l’épaisseur de la couche améliore la qualité cristalline du film et augmente le gap optique, par contre la transmission optique est diminue avec l’augmentation de l’épaisseur.en_US
dc.identifier.urihttps://depot.univ-msila.dz/handle/123456789/8407
dc.language.isofren_US
dc.publisherUniversité Mohamed BOUDIAF de M'Silaen_US
dc.subjectZnO:Al, Couches minces, pulvérisation RF-magnétron, substrat de verre, OTC, épaisseur.en_US
dc.titleÉtude de l’effet de l’épaisseur sur les propriétés structurales et optiques des couches minces de ZnO:Alen_US
dc.typeThesisen_US

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