Etude des propriétés structurales, optiques et électriques des oxydes transparents conducteurs nanostructurés de ZnO dopé Al.

dc.contributor.authorAOUINA, Wafa
dc.date.accessioned2019-02-14T13:28:45Z
dc.date.available2019-02-14T13:28:45Z
dc.date.issued2016
dc.description.abstractDans ce travail de mémoire, nous avons étudié les propriétés structurales, optiques et électriquesdesOTCnanostructurésdeZnOdopéaluminiumencouchesmincesdéposéespar latechniquedepulvérisationcathodiqueRF-magnétronlessubstratsdeverre. Lespropriétés structurales, optiques et électriques des couches minces déposées avec différentes concentrations d’aluminium ont été étudiées. Les résultats obtenus de DRX ont montré que tous les filmsdéposésontunestructurehexagonaledetypewürtziteavecuneorientationpréférentielle selon l’axe c perpendiculaire à la surface de substrat. Les meilleures propriétés électriques mesurées par effet Hall sont ρ= 4.7 ×10−4 Ω.cm, µ= 18 cm2.V−1.s−1, elles ont été obtenues pour les échantillons de ZnO:Al avec une teneur d’aluminium de 3%. Les couches minces présentent une transmission moyenne > 80% .en_US
dc.identifier.urihttps://depot.univ-msila.dz/handle/123456789/7711
dc.publisherUniversité Mohamed Boudiaf, M’silaen_US
dc.subjectZnO:Al, Couches minces, pulvérisation RF-magnétron, substrat de verre, OTC.en_US
dc.titleEtude des propriétés structurales, optiques et électriques des oxydes transparents conducteurs nanostructurés de ZnO dopé Al.en_US
dc.typeThesisen_US

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