L’effet du dopage et de la température sur la mobilité et la résistivité d’un capteur de pression piézorésistif

dc.contributor.authorZIANI, Cherihane
dc.contributor.authorBRIKEL, Khouloud Achouak
dc.contributor.authorEnca/ R., CHABANE
dc.date.accessioned2022-09-13T08:50:09Z
dc.date.available2022-09-13T08:50:09Z
dc.date.issued2022-09-13
dc.description.abstractDans ce mémoire, nous avons procédé à la modélisation de l’effet du dopage et de la température sur la piézorésistivité d’un capteur piézorésistif par le logiciel de simulation Pspice de version 9.1. D’abord, on a commencé par présenter une synthèse sur les capteurs de pression piézorésistifs. Ensuite, nous avons fait une présentation de base sur la conception d’un composant dans la librairie du Pspice, qui est l’"EVALUE". Enfin, nous avons étudié l’effet du dopage et de la température sur la piézorésistivité en utilisant le modèle ARORA.en_US
dc.identifier.urihttps://depot.univ-msila.dz/handle/123456789/31512
dc.language.isofren_US
dc.publisheruniversity of M'silaen_US
dc.subjectSilicium, capteur de pression, tension d’offset, piézorésistivité, modélisation.en_US
dc.titleL’effet du dopage et de la température sur la mobilité et la résistivité d’un capteur de pression piézorésistifen_US
dc.typeThesisen_US

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