Etude des propriétés statiques du MESFET SiC par une simulation numérique

dc.contributor.authorMohamed, Abderraouf
dc.date.accessioned2018-04-10T09:00:32Z
dc.date.available2018-04-10T09:00:32Z
dc.date.issued2015
dc.description.abstractLes transistors à effet de champ à barrière Schottky MESFET SiC sont des composants principaux utilisés en microélectronique. Pour cela, nous avons étudié les caractéristiques statiques du composant MESFET SiC, à l’aide d’un modèle analytique. Aussi, ce travail a pour but de simuler numériquement l’influence des paramètres technologiques et physiques sur le fonctionnement du transistor SiC tel que la longueur de grille, l’épaisseur, le dopage du canal et la température afin d’optimiser ces performances à travers le logiciel Matlaben_US
dc.identifier.otherEL/MAS053/15
dc.identifier.urihttps://depot.univ-msila.dz/handle/123456789/3841
dc.language.isofren_US
dc.publisherUNIVERSITE DE M’SILA FACULTE DE TECHNOLOGIEen_US
dc.subjectMESFET, microélectronique, simulation, SiC.en_US
dc.titleEtude des propriétés statiques du MESFET SiC par une simulation numériqueen_US
dc.typeThesisen_US

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